Logo Quorum Technologies Logo Techoorg Linda Logo PHI Logo Pyser Logo spi Logo Zeta Logo Quantifoil

Domů

Novinky

Kontakty

Poptávkový formulář

Domů › Přístroje pro analýzu tenkých vrstev PHI › TOF SIMS

 

Logo PHI

Přístroje pro analýzu povrchu PHI


TOF-SIMS: Hmotová spektrometrie sekundárních iontů

 

Technika TOF-SIMS

 


Přístrojové vybavení

(po kliknutí na obrázek se otevře popis přístroje)

 

Nano TOF

 

Domovská stránka Physical Electronics www.phi.com

nahoru Nahoru